大容量的電容(通常指1UF以上)測量時更容易出現容值偏低的現象，造成這種現象的主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由于儀器內部阻抗分壓的原因與實際顯示的設定電壓不一致。為了使測量結果誤差降到最低,我們建議將儀器調校并盡量把儀器的設定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓盡量調整,使實際于待測電容上輸的出電壓一致。

　　容量≦1000pF 1.0±0.2Vrms 1MHz

　　材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現象，這再所有以鐵電系材料做介電質的材料產品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現象。原因是因為內部晶體結構隨溫度和時間產生了變化導致了容值的下降，屬于可逆現象。當對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后(建議進行容值恢復所使用之條件為150℃/1hour)，當環(huán)境溫度恢復到常溫后(常溫25℃下放置24小時),材料的分子結構將會回到原始的狀態(tài)。材料將由此開始老化的又一個循環(huán)，貼片電容的容值將恢復到正常規(guī)格之內。